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?SuperViewW系列3d輪廓一鍵測(cè)量?jī)x也叫白光干涉儀是目前三維形貌測(cè)量領(lǐng)域高精度的檢測(cè)儀器之一。在同等放大倍率下，測(cè)量精度和重復(fù)性都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡。在一些納米或者亞納米級(jí)別的超高精度加工領(lǐng)域，除了白光干涉儀，其它儀器達(dá)不到檢測(cè)的精度要求。

SJ5718-PR一鍵式輪廓度測(cè)量?jī)x器除了具有高科技含量外，還將測(cè)試表面粗糙度和表面輪廓兩種功能有機(jī)地設(shè)計(jì)在同一臺(tái)儀器上，其輪廓及粗糙度測(cè)量功能可互換，更適合于深孔測(cè)量的粗糙度模塊，是一款集成表面粗糙度和輪廓測(cè)量的測(cè)量?jī)x器。

?中圖儀器輪廓測(cè)量?jī)xSuperViewW1是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。

SuperViewW1非接觸3d光學(xué)輪廓儀器的X/Y方向標(biāo)準(zhǔn)行程為140*100mm，滿足減薄后晶圓表面大范圍多區(qū)域的粗糙度自動(dòng)化檢測(cè)、鐳射槽深寬尺寸、鍍膜臺(tái)階高等微納米級(jí)別精度的測(cè)量。在同等放大倍率下，測(cè)量精度和重復(fù)性都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡。

SJ5700DUAL掃描粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x具有精度高、操作方便易用、功能強(qiáng)大、智能防護(hù)、智能接觸等優(yōu)點(diǎn)，一次測(cè)量即可自動(dòng)記錄和顯示任意位置螺紋數(shù)據(jù)及各種螺紋參數(shù)，自動(dòng)生成被測(cè)螺紋的曲線圖、相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)和圖表，儀器配備各種專業(yè)的現(xiàn)場(chǎng)工件工裝夾具，非常適合各種生產(chǎn)線螺紋工件、絲杠、軸類、筒類、大曲面零件以及特殊多段螺紋的在線測(cè)量。

SJ5700DUAL國(guó)產(chǎn)表面粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x器是一種高精度的工件表面粗糙度、輪廓測(cè)量分析儀器，可以全量程大范圍連續(xù)掃描，擁有長(zhǎng)達(dá)數(shù)百毫米的持續(xù)爬坡能力，非常適合大范圍陡坡表面測(cè)量，大工件無(wú)需翻轉(zhuǎn)、傾斜調(diào)整，就可實(shí)現(xiàn)輕松測(cè)量。