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三維光學(xué)表面輪廓儀

簡要描述:中圖SuperViewW1三維光學(xué)表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量,通過利用接觸式及非接觸式雙模式基于技術(shù)上的優(yōu)勢獲得獲得全面的表面特性。既可以用于科學(xué)研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測。

  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-10
  • 訪  問  量:654

詳細(xì)介紹

品牌中圖儀器產(chǎn)地國產(chǎn)
加工定制

中圖SuperViewW1三維光學(xué)表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量,過利用接觸式及非接觸式雙模式基于技術(shù)上的優(yōu)勢獲得獲得全面的表面特性。既可以用于科學(xué)研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測。


產(chǎn)品功能

1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能;

3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能;

4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。


W1光學(xué)3D表面輪廓儀,光學(xué)輪廓測量儀.jpg


應(yīng)用領(lǐng)域

SuperViewW1三維光學(xué)表面輪廓儀對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。


輪廓分析步驟

1.將樣品放置在載物臺鏡頭下方;

2.檢查電機連接和環(huán)境噪聲,確認(rèn)儀器狀態(tài);

3.使用操縱桿調(diào)節(jié)Z軸,找到樣品表面干涉條紋;

4.微調(diào)XY軸,找到待測區(qū)域,并重新找到干涉條紋;

5.完成掃描設(shè)置和命名等操作;

6.點擊開始測量(進(jìn)入3D視圖窗口旋轉(zhuǎn)調(diào)整觀察一會);

7.臺階樣品分析第一步:校平;

8.進(jìn)入數(shù)據(jù)處理界面,點擊“校平"圖標(biāo),和平面樣品不同,臺階樣品需手動選取基準(zhǔn)區(qū)域,選好基準(zhǔn)區(qū)域后,先“全部排除"再“包括";

9.若樣品表面有好幾處區(qū)域均為平面且高度一致,可多選擇幾個區(qū)域作為基準(zhǔn)面進(jìn)行校平;

10.臺階高度測量:線臺階高度測量

11.進(jìn)入分析工具界面,點擊“臺階高度"圖標(biāo),即可直接獲取自動檢測狀態(tài)下的面臺階高度相關(guān)數(shù)據(jù);

12.在右側(cè)點擊“手動檢測",根據(jù)需求選擇合適的形狀作為平面1和平面2的測量區(qū)域,數(shù)據(jù)欄可直接讀取兩個區(qū)域的面臺階高度數(shù)值;

13.臺階高度測量:線臺階高度測量

14.進(jìn)入數(shù)據(jù)處理界面,點擊“提取剖面"圖標(biāo),使用合適方向的剖面線,提取目標(biāo)位置的剖面輪廓曲線;

15.進(jìn)入分析工具界面,點擊“臺階高度"圖標(biāo),由于所測為中間凹槽到兩側(cè)平面高度,因此點擊右側(cè)工具欄,測量條對數(shù)選擇“2",將紅色基準(zhǔn)線對放置到凹槽平面中間,兩對測量線對分別放置在兩側(cè)平面,即可在數(shù)據(jù)纜讀取臺階高度數(shù)據(jù)。



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