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飛拍測量|Novator系列影像儀大幅提升半導體模具測量效率

更新時間:2023-08-21      點擊次數(shù):729

目前BGA封裝技術(shù)已廣泛應用于半導體行業(yè),相較于傳統(tǒng)的TSOP封裝,具有更小體積、更好的散熱性能和電性能。

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在BGA封裝的植球工藝階段,需要使用到特殊設計的模具,該模具的開窗口是基于所需的實際焊球大小和電路板焊盤尺寸考慮,模具的開窗口大小直接影響到錫球的尺寸,從而影響到最終的焊接效果:若孔徑過小形成凹點,會使得芯片與連接它的其它部件之間的接觸面積變小,導致信號傳輸不良、電氣性能下降等問題;若孔徑過大則會對焊盤產(chǎn)生壓力,使錫漿不易流動形成缺陷。因此該模具在使用前需要經(jīng)過高精度的檢測,測量其開窗口大小是否合格,是否有臟污,每一個焊點的位置是否正確。


傳統(tǒng)的測量方式針對此類含有小特征多尺寸且無序排列的樣品,在創(chuàng)建模板時需要逐個識別提取,消耗測量人員時間精力,整板自動測量時,測量移動次數(shù)多,測量過程耗時長,效率低下。

中圖儀器Novator系列全自動影像儀,針對此類大尺寸多特征的樣品測量,有以下優(yōu)勢:

(1)單視場范圍大,單視場內(nèi)一次可完成約200個特征提取,無需多次移動;

(2)自動取圓工具,針對無序排列特征,無需測量人員手動逐個特征提取,只需一鍵框選便可實現(xiàn)自動提取,并可自動標注直徑,輸出坐標位置;

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(3)飛拍測量模式,在平臺快速移動過程中就完成特征提取,使測量流程更流暢,測量時間更短。測量外形尺寸320mm×160mm,含有25920個圓的模具,僅需耗時5分鐘,針對此類特征密集排布型工件,飛拍測量充分發(fā)揮其優(yōu)勢,對比傳統(tǒng)影像測量儀,測

量時長由 1小時縮短至 5 分鐘,測量效率提升 10 余倍,且測量精度無損失。


Novator系列全自動影像儀,可有效提升模具測量效率,減少人力資源消耗,為半導體行業(yè)降本增效。Novator系列全自動影像儀創(chuàng)新推出的飛拍測量、圖像拼接、環(huán)光獨立升降、圖像匹配、無接觸3D掃描成像等功能,多方面滿足客戶測量需求,解決各行業(yè)尺寸測量難題。

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