在5G建設(shè)、物聯(lián)網(wǎng)及云計(jì)算行業(yè)發(fā)展、AR&VR&視頻等應(yīng)用滲透率不斷提高等因素的推動(dòng)下，全球網(wǎng)絡(luò)流量呈現(xiàn)持續(xù)的高增長態(tài)勢，流量迅猛增長促進(jìn)全球大型數(shù)據(jù)中心與超大型數(shù)據(jù)中心數(shù)量不斷增加，帶動(dòng)了光通信行業(yè)的迅猛發(fā)展，也促進(jìn)了其中作為核心器件光波導(dǎo)需求的大幅增長。

FA光纖陣列是平面波導(dǎo)分路器的重要部件之一，在光通信行業(yè)中廣泛應(yīng)用，其在生產(chǎn)過程中需要對光纖端面進(jìn)行光學(xué)研磨拋光以提高光纖通訊的傳輸效率。因?yàn)楣饫w連接器的插入損耗及回波損耗與光纖表面的粗糙度存在對應(yīng)關(guān)系，表面粗糙度值越低，光纖連接器的插入損耗值越小，回波損耗值越高，光纖的傳輸效率就越高，因此必須嚴(yán)格控制光纖端面的表面粗糙度。

在光纖端面的檢測需求中，需要測量FA光纖陣列端面光纖中心250×250μm區(qū)域內(nèi)的表面粗糙度，要求Sz參數(shù)控制在200nm之內(nèi)，由于該數(shù)值主要是由于光纖端面中心存在一圓形凸臺(tái)所產(chǎn)生，因此Sz數(shù)值雖然不小但因光纖端面具有超光滑、透明等特征，導(dǎo)致基于鏡頭對焦3D成像的光學(xué)檢測儀器均存在焦面重建失真的風(fēng)險(xiǎn)和問題，而基于光學(xué)干涉實(shí)現(xiàn)3D成像測量的白光干涉儀則是能夠克服光纖端面超光滑和透明的難點(diǎn)，輕松實(shí)現(xiàn)針對光纖端面粗糙度的測量。

圖.光纖端面光學(xué)干涉條紋圖

中圖儀器SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀，是基于白光干涉原理和納米掃描系統(tǒng)研制而成，其具備0.1nm的縱向分辨率和全透明表面干涉條紋成像的能力，能夠輕松實(shí)現(xiàn)針對FA光纖端面粗糙度Sz參數(shù)的高精度、高重復(fù)性的一鍵式測量。

從測量視頻可知，在測量光纖端面的過程中，使用自主開發(fā)的光學(xué)3D表面輪廓儀軟件，能夠自由預(yù)配置好數(shù)據(jù)處理與分析工具，只需一鍵“自動(dòng)測量"，即可直接完成對端面微觀形貌的3D重建和獲取最終Sz數(shù)值結(jié)果。

圖.光纖端面測量場景及3D圖像

針對光通信行業(yè)中光波導(dǎo)器件的光纖端面粗糙度的檢測需求，中圖儀器推出SuperView系列光學(xué)3D表面輪廓儀，可助力行業(yè)客戶輕松實(shí)現(xiàn)針對產(chǎn)品表面質(zhì)量的監(jiān)測與管控，以專業(yè)的技術(shù)服務(wù)，為客戶提供產(chǎn)品，創(chuàng)造價(jià)值。