形貌儀具有哪些優(yōu)勢及特點(diǎn)？
更新時(shí)間：2022-09-01 點(diǎn)擊次數(shù)：430
形貌儀采用全自動測量，提高測量效率，還采用白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，能夠快速的對樣品進(jìn)行三維測量，具有高重復(fù)性和高分辨率的特點(diǎn)，可以用做尺寸比較大的樣品或檢測現(xiàn)場使用，測量度高。已被多個(gè)實(shí)驗(yàn)室、大學(xué)和行業(yè)使用。
它能夠在同一測試平臺上運(yùn)行多種測試，只需單擊按鈕，就能轉(zhuǎn)換成像模式。這種組合可以輕松地對任何表面進(jìn)行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、彎曲的表面等。每種成像模式都具有各自的優(yōu)勢，并且各項(xiàng)技術(shù)彼此互補(bǔ)。該項(xiàng)整合技術(shù)不僅有利于數(shù)據(jù)的綜合分析，也可以減少維護(hù)成本，從而提高效率。
形貌儀具有哪些特點(diǎn)？
1、采用了白光共聚焦色差技術(shù)，該項(xiàng)技術(shù)特點(diǎn)是能夠是分辨率提高到納米級別。
2、在測量過程中，不會對樣品產(chǎn)生破壞作用，而且測量的速度非?？欤軌蚬?jié)約時(shí)間，度也相對比較高。此外，能夠測量的樣品種類非常的多，能夠測量透明樣品和非透明樣品，高反射率樣品和低反射率樣品，金屬材料，以及表面光滑和粗糙的材料都可以進(jìn)行測量。尤其適合于測量表面，具有高坡度高曲折度的材料。
3、不受到樣品反射的影響，也不受到外界環(huán)境光的影響，測量的樣品不需要通過再次的加工處理，可以直接測量，測量相對比較簡單，測量的范圍也比較大，可以進(jìn)行Z方向的測量。
4、只需一次測量便可任意進(jìn)行再分析：變換測量標(biāo)準(zhǔn)（直線/后半/后半/R面/兩端）的分析、設(shè)定任意評價(jià)范圍的分析、以及消除凹凸等異常數(shù)據(jù)后的分析等等，只需一次測量、便可任意進(jìn)行再分析。
5、沒有多余部分，處于地位的擴(kuò)張性：從二維粗糙度到三維粗糙或，或是從粗糙度（二維/三維）到輪廓的復(fù)合機(jī)，只需追加單元便可容易地升級。
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