形貌儀的校準(zhǔn)方法,學(xué)會(huì)了嗎?
更新時(shí)間:2021-10-19 點(diǎn)擊次數(shù):849
形貌儀其實(shí)就是三維表面形貌測(cè)量設(shè)備,采用白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試,具有測(cè)量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)。該儀器包含一個(gè)手持式光學(xué)測(cè)量頭和便攜式電腦,在5mm×5mm范圍內(nèi)對(duì)x及y方向各進(jìn)行高達(dá)1500次的測(cè)量,從而得出平均數(shù)值及標(biāo)準(zhǔn)偏差。同時(shí),設(shè)備的軟件還可進(jìn)一步評(píng)估特定范圍內(nèi)材料表面的性能。該儀器擁有封閉式設(shè)計(jì),因此其測(cè)量結(jié)果重復(fù)性和再現(xiàn)性高。
產(chǎn)品原理是采用白光共聚焦色差技術(shù),利用白光點(diǎn)光源,光線經(jīng)過(guò)透鏡后產(chǎn)生色差,不同波長(zhǎng)的光分開(kāi)后入射到被測(cè)樣品上。位于白光光源的對(duì)稱位置上的超靈敏探測(cè)器系統(tǒng)用來(lái)接收經(jīng)被測(cè)點(diǎn)漫反射后的光。根據(jù)準(zhǔn)共聚焦原理,探測(cè)器系統(tǒng)只能接收到被測(cè)物體上單點(diǎn)反射回來(lái)的特定波長(zhǎng)的光,從而得到這個(gè)點(diǎn)距離透鏡的垂直距離。再通過(guò)點(diǎn)掃描的方式可得到一條線上的坐標(biāo),即X-Z坐標(biāo),以S路徑獲得物體每個(gè)點(diǎn)的三維X-Y-Z坐標(biāo)。將采集的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)交給三維處理軟件進(jìn)行各種表面參數(shù)的分析。
形貌儀的校準(zhǔn)方法:
1、三維形貌校準(zhǔn):這一校準(zhǔn)都和形貌測(cè)量的“高度”結(jié)果相關(guān),所以稱為三維校準(zhǔn)。主要包括對(duì)干涉物鏡參考面形貌誤差的標(biāo)定;以及使用標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階塊對(duì)臺(tái)階高度測(cè)試精度校準(zhǔn)。
2、二維光強(qiáng)校準(zhǔn):這一校準(zhǔn)和成像視場(chǎng)范圍內(nèi)的“光強(qiáng)”信號(hào)相關(guān)。設(shè)備有一些功能,可以增強(qiáng)用戶對(duì)樣品表面觀察效果。比如在某觀測(cè)模式下,可以自動(dòng)去除視場(chǎng)中黑白條紋,更清楚地觀測(cè)表面紋理;真彩模式可以復(fù)現(xiàn)表面彩色信息。
由于以上功能相關(guān)標(biāo)定都只涉及“光強(qiáng)”,不涉及到形貌高度,所以稱為二維光強(qiáng)校準(zhǔn)。
3、橫向校準(zhǔn):形貌儀這一校準(zhǔn)是為了標(biāo)定在當(dāng)前設(shè)置下,每個(gè)像素在橫向上代表的尺寸大小。